Funcionarios de Medicina Legal participan en Primer Congreso Internacional de Metrología

Imagen Funcionarios de Medicina Legal participan en Primer Congreso Internacional de Metrología

Fecha de publicación: 2012-08-31

Una participación positiva y relevante en el "Primer Congreso Internacional de Metrología", proyectó el Instituto Nacional de Medicina Legal y Ciencias Forenses, a través de la profesional especializada forense Nidia Mireya Pérez, responsable técnico del laboratorio de metrología de la Entidad y Johana Sánchez Arévalo, Asistente Forense, metróloga del laboratorio de metrología.

El evento se realizó en el auditorio del Instituto Nacional de Metrología de Colombia, INM, escenario donde las funcionarias tuvieron la oportunidad de exponer los avances de la Subred Forense y de Seguridad que coordina el Instituto, los que de acuerdo con lo señalado por las participantes, se plantearon desde la perspectiva de lo contemplado en el plan de acción y que tienen relación con el trabajo de desarrollo de materiales de referencia para cocaína y heroína, protocolo para ensayos de aptitud y acuerdos para validación de métodos en diferentes campos forenses.

De igual forma se tuvo la oportunidad de manifestar la necesidad del acompañamiento que se requiere por parte de organismos con amplia trayectoria en estos temas como el  Instituto Nacional de Estandar y Tecnología, NIST y otros institutos de metrología para el desarrollo de materiales de referencia, transferencia de métodos para la validación de análisis de comparación de huellas, voces, documentos cuestionados, imágenes y aramas de fuego, indicó la experta forense Nidia  Mireya Pérez.

La metrología se define como la ciencia de las  mediciones y sus aplicaciones. Cubre también los principios relativos a las magnitudes y unidades. En el instituto Nacional de Medicina Legal y Ciencias Forenses, esta área tiene una gran importancia dadas las características  de los equipos de ultima generación con que cuenta la Entidad y que son fundamentales para el cumplimiento de gran parte de la  labor misional  que le ha sido encomendada al organismo como ente auxiliar de la administración de justicia.

Es de destacar que el "Primer Congreso  Internacional de Metrología" contó con la presencia de destacados conferencistas como el Dr. Willie E. May de los Estados Unidos de Norte América, Director Asociado para los Programas de Laboratorios del NIST; la Dra. María Filomena Camoes, Presidenta de la División de Química Analítica, de la Unión Internacional de química pura y Aplicada (IUPAC), de la  Facultad de Ciencias Universidad de Lisboa, y el Dr. Luis Mussio, ingeniero de la Oficina Internacional  de Metrologia Legal, OIML-Francia, entre otros destacados personajes del mundo de la metrología.